汎銓董座柳紀綸：測矽光子漏光就會用到汎銓專利　籲光焱面對法律

矽光子檢測專利戰不斷延燒，針對光焱科技今日駁斥汎銓「以舊打新」的回應，汎銓今日表示，正式提告專利侵權，並呼籲光焱應面對法律。

面對25日半導體檢測大廠汎銓對侵權的指控和提告，矽光子檢測設備業者光焱今日表示，雙方在檢測技術的世代上存在顯著落差，強調公司營運、業務及設備出貨均正常進行，財務業務皆不受影響。

對此，汎銓重申，已於2026年3月25日上午正式向智慧財產及商業法院提起民事訴訟，主張光焱科技股份有限公司侵害本公司所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並依法請求相關侵權行為之停止及新台幣2億元之損害賠償。本案已進入司法程序，相關事實與法律爭點，將依法由法院審理並作出最終判斷。