重量級企業齊聚！輝達、台積、高通與宜特攜手攻克AI與CPO故障分析關卡

全球半導體故障分析 (Failure Analysis, 簡稱FA) 領域迎來里程碑式的盛事！國際頂尖電子元件故障分析權威機構電子設備故障分析協會 (Electronic Device Failure Analysis Society，簡稱EDFAS) 今年首度移師亞洲，於2026年4月21日在台灣新竹盛大舉辦故障分析研討會 (FA Workshop)。作為亞洲半導體驗證分析的指標性領航者，宜特科技 (iST) 非常榮幸受邀擔任本次盛會的協辦單位，宜特 (iST) 董事長余維斌為大會揭開序幕，竭誠歡迎海內外業界先進齊聚新竹。

宜特董事長余維斌表示，宜特 (iST) 非常榮幸能促成此次論壇，本次電子設備故障分析協會 (EDFAS) 選擇在台灣舉辦首場亞洲區技術研討會，不僅象徵著台灣在全球半導體領域已佔據舉足輕重的地位，宜特更將透過此平台與全球專家協作，共同突破 AI 時代下極致複雜的封裝驗證瓶頸，定義人工智慧時代的故障分析新標準。

本次論壇現場座無虛席，吸引了來自全球的封裝測試專家、晶片設計師與設備研發主管共同參與，會中匯聚了輝達 (NVIDIA)、台積電 (TSMC)、高通 (Qualcomm) 等產業領導者，針對「後生成式 AI 時代」下極致複雜的封裝結構進行深度技術校準。隨著AI算力需求進入爆發期，晶片結構的故障點定位 (Fault Localization) 已成為決定量產良率與產品上市時程的最強關卡。