在人工智慧浪潮帶動全球半導體產業升級的當下,晶片製造過程中的關鍵關卡測試、量測技術,正從傳統後段品管的輔助角色,AI晶片單價是過去的好幾倍,如果無法透過測試找出瑕疵,將讓製造成本大增,也讓半導體測試躍升為決定晶片產能、良率與成本的主角。
SEMI國際半導體產業協會全球行銷長暨台灣區總裁曹世綸今天表示,隨著人工智慧晶片總價值大幅提升,AI晶片製造過程中如果發生錯誤的成本隨之翻倍,若量檢測無法在早期發揮找錯功效,將對產能與出貨造成巨大衝擊。為此,SEMI針對台灣半導體量檢測產業發展,正式向政府與產業界提出政策補助、人才培育及建置共用平台等三大訴求,期望將先進測試與量檢測打造為台灣半導體護國神山群的關鍵支柱。
曹世綸表示,人工智慧晶片製造與先進製程演進迅速,包含晶圓的三維立體化與缺陷隨機化等結構改變,讓量檢測技術直接影響晶片的效能、良率與量產速度。
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