AI晶片對良率零容忍！致茂曾一士：半導體量測從省成本變剛需

隨著人工智慧技術爆發性成長，半導體檢測與量測設備的戰略地位迎來轉變，致茂電子董事長曾一士今天表示，AI晶片整合先進製程、先進封裝、高頻寬記憶體與高功率運算等極度複雜的系統，任何一個微小零組件失效都會造成全盤皆輸，使得客戶對產品良率與可靠度的要求提升至零容忍的地步。這項變革驅動檢測與量測技術從過去輔助降低成本的經濟工具，徹底轉變為決定產品能否順利上市的剛性需求。

曾一士表示，自2000年以來全球半導體測試與檢測設備市場規模顯著擴張，近年受惠於AI產業需求暴增，設備營收斜率更出現明顯向上跳升。他強調，這絕非短期的熱潮，而是半導體產業走入量檢測新時代的典範轉移。

AI晶片的發展徹底翻轉了傳統產品開發流程，過去普遍採用技術成熟後再規劃產品的模式，如今轉變為企業在技術尚未完全成熟前，便先行定義下一代產品的效能、功率與系統規模，隨後再要求工程團隊克服材料、製程、散熱及封裝等技術瓶頸。