光焱、汎銓矽光子專利戰進入攻防階段　律師揭一重點無侵權可能

半導體檢測分析大廠汎銓科技（6830）今年3月針對光焱科技提起專利侵權訴訟，全案目前繫屬於智慧財產及商業法院一審階段，雙方正式展開書狀攻防。光焱科技委任之巨群法律專利事務所律師賴安國表示，汎銓在過去的專利審查與舉發歷程中，已就專利範圍做出了「限縮性解釋」，並將相關機台結構明確排除在專利權利範圍之外，他認為，在法律的「全要件原則」與「禁反言原則」檢視下，光焱旗下產品並無侵權可能。

半導體檢測分析大廠汎銓科技（6830）今年3月指出，發現光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案，向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱侵害汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，該專利也陸續取得台灣、日本、美國、歐洲專利。

光焱科技委任之巨群法律專利事務所主持律師賴安國受訪時表示，專利訴訟的核心爭點主要在於「專利有效性」以及「被控產品是否落入專利權利保護範圍」。汎銓在此案中主張受侵害的專利為第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並以FormFactor的CM300xi-SiPh機台搭配光焱NightJar所構成的整套設備作為侵權指控對象。