半導體檢測分析大廠汎銓科技(6830)積極擴大矽光子業務布局,於今日宣布與全球測試量測設備大廠Anritsu安立知(以下簡稱「安立知」)展開合作,雙方將結合汎銓在矽光子光損偵測、故障定位與影像映射(Mapping)技術,以及安立知於高速光電訊號量測領域的技術能力,共同推進新世代矽光子整合量測平台,搶攻AI資料中心、矽光子、共同封裝光學(CPO)及高速光互連相關研發驗證商機。
汎銓表示,此次合作將以自主開發的MSS HG矽光子光損偵測設備為核心平台,進一步整合高速光電測試設備相關功能,除既有可直接偵測PIC(Photonic Integrated Circuit,光子積體電路)內部光損位置、進行影像定位與Mapping外,未來亦可依客戶需求擴充光電特性、高速訊號與傳輸品質等量測功能,逐步朝「光損定位+光電參數量測+高速訊號驗證」的一站式矽光子研發平台發展。
安立知長期深耕高速通訊與光電量測市場,具備完整的高速訊號與光電特性分析技術。其中,光電網路分析平台可針對光調變器、雷射、光接收器及光收發模組等元件,進行E/O(Electrical-to-Optical,電轉光)及O/E(Optical-to-Electrical,光轉電)等光電特性分析,另外,亦具備模組化高速BERT(Bit Error Rate Tester,位元錯誤率測試儀)平台,可支援NRZ(Non-Return-to-Zero,非歸零碼)、PAM4(4-level Pulse Amplitude Modulation,四階脈衝振幅調變)及高速訊號完整性分析。
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