矽光子之爭場外先開打　汎銓提告光焱科技專利侵權　求償2億元

半導體檢測大廠汎銓科技（6830）董事長柳紀綸今日表示，公司發現光焱科技（7728）涉及侵犯汎銓公司「光損偵測裝置」專利相關之設備及技術方案。今日正式向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱科技股份有限公司侵害汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利。

外界對於矽光子技術發展相當期待，不過矽光子技術還未真正量產落地，場外專利戰先開打，半導體檢測大廠汎銓今日宣布對矽光子檢測設備業者光焱科技提告侵權。

汎銓強調，台灣科技產業在國際負有護國群山盛名，汎銓更是專攻半導體核心的高階先進製程材料檢測分析與AI暨矽光子檢測等具有全球領導能力的半導體業務領域，業務與營運範圍涵蓋美國、台灣、日本等全球重要半導體與AI領先市場，如今公司在全球領先的關鍵技術專利上受到侵權及損害，不得不採取正式法律途徑尋求對相關違法行為的合理保護及賠償，避免台灣最重要的科技產業技術面臨肆意損害並外流至其他國家的可能疑慮，致使台灣在國際上能夠站穩立足之根本受到嚴重打擊。