無懼專利紛擾！光焱科技發表矽光子檢測新品　強調營運出貨如期

矽光子檢測市場近期爆發專利之爭，汎銓向光焱提告侵害專利，汎銓柳紀綸董事長表示，矽光子漏光偵測所用的波段偵測器，就是汎銓專利範圍，光焱則表示，汎銓所宣稱之專利，係採用傳統「金相顯微鏡」組成之方案進行光損量測，而光焱科技則是基於次世代、更先進的「高光譜成像技術感測模組」為核心技術。

針對近期市場關注之專利相關議題，光焱科技（7728）今日表示，公司目前營運、訂單與設備交付均依計畫穩定推進，整體財務與業務發展維持正常。光焱科技指出，面對快速成長的全球矽光子市場，公司將持續聚焦於技術深化與應用落地，與客戶共同推動產業由研發走向規模化量產。

為回應AI與高速運算帶動之矽光子需求快速提升，光焱科技正式發表全新 PIC（光子積體電路）檢測解決方案「FireFox 高功率可靠度量測系統」。